• Model

    BFL DİJİTAL ENTEGRE VE KART TAMİR CİHAZI

  • Marka

    Abi Electronic

  • BFL DİJİTAL ENTEGRE VE KART TAMİR CİHAZI

     ABI electronic logo ile ilgili görsel sonucu       Ä°lgili resim

BFL Elektronik kart test ve elektronik kart tamir modülü;

Tüm dijital entegre ve bileşenleri elektronik kart üzerinden sökmeden test edebişlir ve hatalarını tespit edebilirsiniz. Kütüphanesinde bulunan dijital entegtegreleri ister devre içinde isterseniz devre dışında test edip sağlam yada hatalı olduğu sonucunu saniyeler içinde alabilirsiniz. Test fixture bağlanarak çalışabilir. 

 

Abi firması tarafından geliştirilen test yazılımı ile istediğiniz elektronik kart üzerindeki dijital yapıları adım adım test edebilir ve bu modülü devre dışı olarak kullanabilirsiniz. Çok kolay kullanımı olan BFL modülü elektronik kart üzerinde bulunan Programlı Malzmeleri okur ve Sağlam kartınızdaki program ile karşılaştırarak entegre üzerine yüklenmiş programı kontrol ederek hatalı olup olmadığının kontrolünü yapabilirsiniz.

Modülün kontrol yazıılımı Türkçedir.

Stokta Yok
  • 2 Yıl Garanti Resmi İthalatçı
  • Türkiye Temsilcisi
  • Orijinal Ürün Garantisi
  • Standart 3
  • Müşteri Memnuniyeti
  • Yüksek Kalite
  • Destek
Birim Fiyat 0,00 TL + KDV
Havale İndirimli 0,00 TL + KDV

Özellikler

Devre içi ve devre dışı (TLL veya CMOS)

Delikten veya SMT'den (DIL, SOIC, PLCC, QFP)

NAND geçitlerinden CPU'lara kadar kütüphane aralığı

Standart veya özel mantık (Grafiksel Test Üreteci)

Dijital V-I Test Cihazı

Dijital IC Tanımlayıcısı

Üzeri Silinmiş Dijital Entegre Bulucu ve Muadillerini Bulur

EPROM Doğrulayıcısı

Kısa Devre Bulucu

TestFlow Test Yöneticisi
 
Özellikler

1x SISTEM 8 64 kanal Kartı Hata Bulucu modülü

1x Kurulu Hata Bulucu kablo seti

1x Otomatik devre dışı adaptörü

DIL Test Klipsleri: 20 pin (0.3 ”) ve 40 pin (0.6”) DIL test klipleri

CD-ROM'da SİSTEM 8 yazılımı

Standart PCI arayüzü

 

Short Locator
3 resistance ranges. Audible indication of
proximity to short. Automatic probe calibration.
Visual indication of proximity to short. Audible
continuity checker.


IC Test
64 test channels (expandable to 256). 4 bus
disable outputs. Truth table, voltage, connections,
thermal and V-I tests. In-circuit and out-of-circuit
(with adapter) testing. TTL, CMOS, Memory,
Interface, LSI, CPU, PAL, Linear and package
libraries.
Programmable logic thresholds. Loop modes for
intermittent faults. User library manager for
adding new or custom ICs. Logic trace mode to
display test waveforms.


Power Supply
5V DC at 5A for PCB under examination.
Overvoltage and overcurrent protection.
Electronically controlled from IC Tester.
Programmable switching delay.


Digital V-I Test
Optimised for digital components. 64 test
channels (expandable to 256). Voltage 2.5 to 20V.
Waveform zoom facility. Current limited for IC
protection.


Graphical Test Generator
64 channels (expandable to 256). Graphically
programmable for custom test vectors. Vectors
can be saved and loaded, or auto-learned.
IC Identifier
Identify unknown, illegible or house coded ICs.
EPROM Verifier
Read, view, save and verify EPROM's from 2k x 8 to
256k x 8. In- or out-of-circuit (with adapter).
The Board Fault Locator module requires a PC for
operation. Modules are available with PCI or USB
interface card and SYSTEM 8 Premier software.

Digital IC test capability
Number of I/O channels: 64-256
Number of guard outputs: 4 or 8
Live comparison: 64 x 2, 128 x 2 with additional modules
Drive output voltage: TTL/CMOS compatible
Drive output current: Device dependent
Typical H-L 80mA @ 0.6V
Typical L-H 200mA @ 2V
Max. 400mA
Drive slew rate: >100V/μs
Receive input: +/-10V
Input impedance: 10k
Termination: Programmable for tri-state/open collector
Drive states: Low, high, tri-state
Over voltage protection: <0.5V, >5.5V
Test time: Dependent on device
Circuit modes: In-circuit. Out-of-circuit (with adapter)


Power supply for board under test
Automatic power supply: 1 x 5V @ 5A fixed
( 2 x 5V @ 5A fixed for 128 channels)
Over voltage protection: 7V
Short circuit current: 7A


Test modes
Single: Single test
Loop: Unconditional, loop while good, loop while bad
Auto: Find tightest valid thresholds


Test thresholds
Resolution: 100mV
Low levels: TTL 0.1V to 1.1V
CMOS 0.1V to 1.5V
Switching levels: TTL 1.0V to 2.3V
CMOS 1.0V to 3.0V
High levels: TTL 1.9V to 4.9V
CMOS 1.9V to 4.9V
Swept low levels: TTL 0.1V to 1.1V
CMOS 0.1V to 1.5V
Swept switching levels: TTL 1.2V
CMOS 2.5V
Swept high levels: TTL 1.9V to 4.9V
CMOS 1.9V to 4.9V


Test types
Truth table (functional): Library based functional test
Connections (MDA): Short circuit detection
Floating input detection
Open circuit detection
Linked pin detection
Voltage: Resolution 10mV
Range +/-10V
Logic state detection
VI: Number of channels 64 - 256
Sweep ranges -10V to +10V
(programmable)
Maximum test current 1mA
Multi-plot with single waveform zoom
Thermal: Indication of pin temperature


Test libraries
Library classes: TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI,
Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package,
Special and user defined
Package types: DIL, SOIC, PLCC, QFP

İletişim
Hilal Mah. 687 Sk. No : 3 / 7 Çankaya - ANKARA
0 312 440 42 85
info@iltekteknoloji.com.tr
Sosyal Medya
Copyright 2024 İltek Teknoloji. Tüm Hakları Saklıdır Web Tasarım Teknobay